Dimon1998daf в 04:42, 15 февраля 2021

2021-02-15T04:42:44Z

Dimon1998daf в 04:14, 15 февраля 2021

2021-02-15T04:14:54Z

Dimon1998daf в 14:39, 11 февраля 2021

2021-02-11T14:39:22Z

Dimon1998daf: Новая страница: « Категория:Феррозондовый контроль»

2021-02-11T14:38:53Z

Новая страница: « Категория:Феррозондовый контроль»

Новая страница

[[Категория:Феррозондовый контроль]]

@@ Строка 3: / Строка 3: @@
 |description= Способы дефектоскопирования при феррозондовом контроле
 }}
 __TOC__

@@ Строка 77: / Строка 77: @@
 * [[Изучение феррозондовых преобразователей]]
-* [[Намагничивание детали]]
+* [[Феррозондовый контроль]]
 * [[Настройка феррозондовых дефектоскоповградиентомеров]]
 [[Категория:Феррозондовый контроль]]

← Предыдущая		Версия 14:39, 11 февраля 2021
Строка 1:		Строка 1:
		+	{{#seo:
		+	\|keywords=полезная информация про Способы дефектоскопирования при феррозондовом контроле
		+	\|description= Способы дефектоскопирования при феррозондовом контроле
		+	}}

		+	__TOC__
		+
		+	== Способы дефектоскопирования при феррозондовом контроле ==
		+
		+	В зависимости от магнитных свойств материала, размера и формы контролируемого изделия применяют два способа контроля: [[Способ приложенного поля\|приложенного магнитного поля]] (СПП) и [[Способ остаточной намагниченности\|остаточной намагниченности]] (СОН). Контроль способом приложенного магнитного поля заключается в намагничивании изделия и одновременной регистрации преобразователем напряженности магнитных полей рассеивания дефектов в присутствии намагничивающего поля. В приложенном поле следует контролировать изделия из материалов с низкими значениями [[Коэрцитивная сила\|коэрцитивной силы]] (Hc < 1280 А/м) и остаточной индукции (Br < 0,53 Тл), если в технической документации на контролируемое изделие, утвержденной в установленном порядке, способ контроля не оговорен.
		+
		+	Контроль способом остаточной намагниченности заключается в намагничивании изделия и регистрации преобразователем напряженности магнитных полей рассеивания после снятия намагничивающего поля. По остаточной намагниченности следует контролировать изделия из материалов с высокими значениями коэрцитивной силы (Hc ≥ 1280 А/м) и остаточной индукции (Br ≥ 0,53 Тл). Намагничивание деталей переменным током следует применять при контроле способом остаточной намагниченности.
		+
		+	== Технология феррозондового контроля ==
		+
		+	Феррозондовый неразрушающий контроль проводят по технологическим картам контроля в соответствии с ГОСТ 3.1102 и ГОСТ 3.1502. В соответствии с ГОСТ 21104-75, руководящими документами РД 32-174-2001 и РД 32-149-2000 в процессе контроля осуществляются следующие технологические операции: подготовка к проведению контроля намагничивающих устройств, дефектоскопа и деталей; проведение контроля (намагничивание детали, сканирование детали и обнаружение [[дефект\|дефекта]], оценка и оформление результатов контроля).
		+
		+	== Подготовка намагничивающих устройств ==
		+
		+	Подготовка намагничивающих устройств к проведению контроля предусматривает внешний осмотр и проверку работоспособности. При внешнем осмотре электромагнитного НУ проверяют целостность корпуса блока питания, надежность подключения соединительных кабелей, наличие заземления и исправность всех элементов, приставного – надежность крепления гибкого [[магнитопровод\|магнитопровода]] и отсутствие механических повреждений.
		+
		+	== Подготовка дефектоскопа ==
		+
		+	Подготовка дефектоскопа включает в себя внешний осмотр (проверку целостности корпуса, кабелей, защитного колпачка ФП и других составных частей), проверку работоспособности и настройку с помощью СОП (установку порога чувствительности)
		+
		+	== Подготовка детали к контролю ==
		+
		+	1) Очищают деталь от загрязнений с помощью моечных (чистящих)
		+	устройств или вручную – металлическими (волосяными) щетками.
		+	2) Осматривают деталь с применением лупы и переносной лампы (визуальному осмотру подвергаются все поверхности контролируемой детали).
		+	Осмотр контролируемой детали осуществляют с поворотом ее относительно продольной оси на угол, достаточный для осмотра, с помощью стендовкантователей, [[манипулятор\|манипуляторов]] и другого оборудования. Повреждения, обнаруженные при осмотре, отмечают по контуру мелом.
		+	3) Выявленные при визуальном осмотре дефекты устраняют зачисткой или другими методами в соответствии с требованиями нормативных и технологических документов (детали с обнаруженными недопустимыми дефектами феррозондовому контролю не подлежат).
		+	4) Деталь перемещают на позицию контроля и закрепляют. Транспортировку детали осуществляют действующими на участке контроля подъемнотранспортными механизмами.
		+
		+	== Намагничивание детали ==
		+
		+	1) Намагничивание детали производят специальными намагничивающими устройствами, предназначенными для конкретного типа детали. В некоторых случаях допускается производить намагничивание детали в
		+	составе изделия.
		+	2) Подготовку намагничивающего устройства осуществляют в соответствии с руководством по эксплуатации.
		+	Детали после контроля размагничиванию не подлежат.
		+
		+	== Сканирование детали и обнаружение дефекта ==
		+
		+	1) Подготовку дефектоскопа к работе производят в соответствии с руководством по эксплуатации.
		+	2) Устанавливают феррозондовый преобразователь на контролируемую поверхность детали.
		+	3) Плавно перемещают феррозондовый преобразователь по контролируемой поверхности вдоль магнитных силовых линий. При перемещении преобразователь прижимают к поверхности детали с небольшим усилием.
		+	4) [[Феррозондовый преобразователь\|Феррозондовый преобразователь]] перемещают так, чтобы его нормальная ось была перпендикулярна контролируемой поверхности, а продольная – параллельна поверхности и направлена вдоль силовых линий магнитного поля.
		+
		+	Сканирование осуществляют без перекосов, наклонов и отрывов преобразователя от поверхности детали. Шаг сканирования должен составлять 5 – 15 мм.
		+	Скорость сканирования не должна превышать 8 см/с.
		+
		+	5) Участки объектов контроля, имеющие загрязнения толщиной более 2 мм, контролируются с повышенной (в сравнении с установленной на стандартном образце) чувствительностью. При контроле загрязненных участков объектов контроля чувствительность дефектоскопа увеличивается следующим образом:
		+
		+	ДФ-103А – поворачивают регулятор «Точно» на одно деление вправо;
		+	ДФ-105А – перемещают световое табло индикатора чувствительности на
		+	два сегмента в сторону увеличения;
		+	ДФ-201.1 – уменьшают значение фиксированного порога на 25 – 30 %;
		+	ДФ-205.03, ДФ-205.30А – нажимают 10 раз кнопку «>» в рамках операции «Ручная настройка порога».
		+
		+	6) При срабатывании индикаторов дефекта дефектоскопов над какойлибо точкой контролируемой поверхности выполняют следующие операции:
		+	а) проводят феррозондовым преобразователем по месту появления сигнала;
		+	б) определяют точку поверхности, соответствующую максимальному показанию индикатора, и отмечают ее мелом;
		+	в) выполняют преобразователем параллельные проходы с шагом 5 мм слева и справа (выше – ниже) от отметки, фиксируют мелом точки поверхности, соответствующие максимальному показанию стрелочного или цифрового индикатора дефекта. Параллельные проходы производят до прекращения срабатывания индикаторов дефекта.
		+
		+	7) Если отметки образуют линию, осматривают отмеченный участок и убеждаются в наличии трещины.
		+	8) Если трещина визуально не обнаруживается, то выполняют следующие операции: зачищают отмеченный участок металлической щеткой; осматривают очищенный участок с помощью лупы и переносной лампы.
		+	9) Если после зачистки металлической щеткой и осмотра трещина не обнаружена, то сканируют зачищенный участок феррозондовым преобразователем. Если сигнал индикатора исчезнет, то дефект исключают из рассмотрения.
		+
		+	Если индикаторы дефекта продолжают срабатывать, то требуется оценить параметры дефекта (протяженность, направление) и исключить из рассмотрения одиночные сигналы, вызванные литейными прокатами (структурными неоднородностями, порами, неметаллическими включениями и т. д.); сигналы, вызванные неоднородностью магнитного поля, обусловленной конструкцией детали; сигналы в зоне магнитного пятна (на участках размещения полюсных наконечников намагничивающих устройств); сигналы, которые повторяют границу зоны наклепа («выработки») на контролируемой поверхности.
		+
		+	== Оценка и оформление результатов контроля ==
		+
		+	Оценку результатов контроля следует проводить в соответствии с требованиями, установленными в руководящем документе. Результаты контроля следует регистрировать в журнале установленной формы (приложение). Технологическая информация и результаты контроля, полученные с помощью микропроцессорных [[Дефектоскоп\|дефектоскопов]] и накопленные в памяти компьютера, должны быть распечатаны в форме протоколов (см. приложение) и подшиты в журнал.
		+
		+	== См. также ==
		+
		+	* [[Изучение феррозондовых преобразователей]]
		+
		+	* [[Намагничивание детали]]
		+
		+	* [[Настройка феррозондовых дефектоскоповградиентомеров]]

	[[Категория:Феррозондовый контроль]]		[[Категория:Феррозондовый контроль]]

Способы дефектоскопирования при феррозондовом контроле - История изменений

Dimon1998daf в 04:42, 15 февраля 2021

Dimon1998daf в 04:14, 15 февраля 2021

Dimon1998daf в 14:39, 11 февраля 2021

Dimon1998daf: Новая страница: « Категория:Феррозондовый контроль»