4957
правок
Изменения
Перейти к навигации
Перейти к поиску
Строка 1:
Строка 1: + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + +
Условный уровни чувствительности магнитопорошкового контроля (просмотреть исходный код)
Версия 12:28, 7 марта 2021
, 12:28, 7 марта 2021Нет описания правки
{{#seo:
|keywords=полезная информация про условный уровень чувствительности магнитопорошкового контроля
|description= Условный уровень чувствительности магнитопорошкового контроля
}}
__TOC__
== Общие сведения ==
Условный уровень чувствительности А достигается при Rа £ 2,5 мкм, уровни Б и В – при Rа £ 10,0 мкм. При выявлении [[Подповерхностный дефект|подповерхностных дефектов]], а также при Rа > 10,0 мкм условный уровень чувствительности не нормируется. Практика магнитопорошкового контроля свидетельствует о том, что применение условных уровней чувствительности не оправдывает себя.Выявляемость [[Дефект|дефектов]] снижается при обследовании следующих объектов:
* а) плоскости которых составляют угол менее 30° с контролируемой поверхностью или с направлением магнитной индукции;
* б) подповерхностных;
* в) на поверхности объекта с параметром [[Шероховатость|шероховатости]] Rz > 10 мкм;
* г) при наличии на поверхности объекта немагнитных покрытий толщиной более 40 мкм (краски, нагара, продуктов коррозии, шлаков, термообмазок).
В данных случаях чувствительность не нормируется. Магнитопорошковый метод не позволяет определять глубину и ширину поверхностных дефектов, размеры подповерхностных дефектов и глубину их залегания.
== Недостатки метода ==
Недостатками метода следует считать также трудность автоматизации и влияние субъективных качеств оператора-дефектоскописта.
== См. также ==
* [[Нанесение магнитного индикатора]]
* [[Осмотр деталей]]
* [[Средства магнитопорошкового контроля]]
[[Категория:Магнитопорошковый метод неразрушающего контроля]]
[[Категория:Магнитопорошковый метод неразрушающего контроля]]