Условный уровни чувствительности магнитопорошкового контроля: различия между версиями
Перейти к навигации
Перейти к поиску
(Новая страница: «Категория:Магнитопорошковый метод неразрушающего контроля») |
|||
| Строка 1: | Строка 1: | ||
| + | {{#seo: | ||
| + | |keywords=полезная информация про условный уровень чувствительности магнитопорошкового контроля | ||
| + | |description= Условный уровень чувствительности магнитопорошкового контроля | ||
| + | }} | ||
| + | |||
| + | __TOC__ | ||
| + | |||
| + | == Общие сведения == | ||
| + | |||
| + | Условный уровень чувствительности А достигается при Rа £ 2,5 мкм, уровни Б и В – при Rа £ 10,0 мкм. При выявлении [[Подповерхностный дефект|подповерхностных дефектов]], а также при Rа > 10,0 мкм условный уровень чувствительности не нормируется. Практика магнитопорошкового контроля свидетельствует о том, что применение условных уровней чувствительности не оправдывает себя.Выявляемость [[Дефект|дефектов]] снижается при обследовании следующих объектов: | ||
| + | |||
| + | * а) плоскости которых составляют угол менее 30° с контролируемой поверхностью или с направлением магнитной индукции; | ||
| + | * б) подповерхностных; | ||
| + | * в) на поверхности объекта с параметром [[Шероховатость|шероховатости]] Rz > 10 мкм; | ||
| + | * г) при наличии на поверхности объекта немагнитных покрытий толщиной более 40 мкм (краски, нагара, продуктов коррозии, шлаков, термообмазок). | ||
| + | |||
| + | В данных случаях чувствительность не нормируется. Магнитопорошковый метод не позволяет определять глубину и ширину поверхностных дефектов, размеры подповерхностных дефектов и глубину их залегания. | ||
| + | |||
| + | == Недостатки метода == | ||
| + | |||
| + | Недостатками метода следует считать также трудность автоматизации и влияние субъективных качеств оператора-дефектоскописта. | ||
| + | |||
| + | == См. также == | ||
| + | |||
| + | * [[Нанесение магнитного индикатора]] | ||
| + | |||
| + | * [[Осмотр деталей]] | ||
| + | |||
| + | * [[Средства магнитопорошкового контроля]] | ||
| + | |||
[[Категория:Магнитопорошковый метод неразрушающего контроля]] | [[Категория:Магнитопорошковый метод неразрушающего контроля]] | ||
Версия 12:28, 7 марта 2021
Общие сведения
Условный уровень чувствительности А достигается при Rа £ 2,5 мкм, уровни Б и В – при Rа £ 10,0 мкм. При выявлении подповерхностных дефектов, а также при Rа > 10,0 мкм условный уровень чувствительности не нормируется. Практика магнитопорошкового контроля свидетельствует о том, что применение условных уровней чувствительности не оправдывает себя.Выявляемость дефектов снижается при обследовании следующих объектов:
- а) плоскости которых составляют угол менее 30° с контролируемой поверхностью или с направлением магнитной индукции;
- б) подповерхностных;
- в) на поверхности объекта с параметром шероховатости Rz > 10 мкм;
- г) при наличии на поверхности объекта немагнитных покрытий толщиной более 40 мкм (краски, нагара, продуктов коррозии, шлаков, термообмазок).
В данных случаях чувствительность не нормируется. Магнитопорошковый метод не позволяет определять глубину и ширину поверхностных дефектов, размеры подповерхностных дефектов и глубину их залегания.
Недостатки метода
Недостатками метода следует считать также трудность автоматизации и влияние субъективных качеств оператора-дефектоскописта.