WikiRail

Изменения

Способы дефектоскопирования при феррозондовом контроле (просмотреть исходный код)

Версия 07:42, 15 февраля 2021

14 840 байт добавлено ,  07:42, 15 февраля 2021
Нет описания правки
Строка 1: Строка 1:  +
{{#seo:
 +
|keywords=полезная информация про Способы дефектоскопирования при феррозондовом контроле
 +
|description= Способы дефектоскопирования при феррозондовом контроле
 +
}}
    +
{{XK|Wikirail|Главная|Категория:Техническая диагностика подвижного состава|Техническая диагностика подвижного состава|Категория:Феррозондовый контроль|Феррозондовый контроль }}
 +
 +
__TOC__
 +
 +
== Способы дефектоскопирования при феррозондовом контроле ==
 +
 +
В зависимости от магнитных свойств материала, размера и формы контролируемого изделия применяют два способа контроля: [[Способ приложенного поля|приложенного магнитного поля]] (СПП) и [[Способ остаточной намагниченности|остаточной намагниченности]] (СОН). Контроль способом приложенного магнитного поля заключается в намагничивании изделия и одновременной регистрации преобразователем напряженности магнитных полей рассеивания дефектов в присутствии намагничивающего поля. В приложенном поле следует контролировать изделия из материалов с низкими значениями [[Коэрцитивная сила|коэрцитивной силы]] (Hc < 1280 А/м) и остаточной индукции (Br < 0,53 Тл), если в технической документации на контролируемое изделие, утвержденной в установленном порядке, способ контроля не оговорен.
 +
 +
Контроль способом остаточной намагниченности заключается в намагничивании изделия и регистрации преобразователем напряженности магнитных полей рассеивания после снятия намагничивающего поля. По остаточной намагниченности следует контролировать изделия из материалов с высокими значениями коэрцитивной силы (Hc ≥ 1280 А/м) и остаточной индукции (Br ≥ 0,53 Тл). Намагничивание деталей переменным током следует применять при контроле способом остаточной намагниченности.
 +
 +
== Технология феррозондового контроля ==
 +
 +
Феррозондовый неразрушающий контроль проводят по технологическим картам контроля в соответствии с ГОСТ 3.1102 и ГОСТ 3.1502. В соответствии с ГОСТ 21104-75, руководящими документами РД 32-174-2001 и РД 32-149-2000 в процессе контроля осуществляются следующие технологические операции: подготовка к проведению контроля намагничивающих устройств, дефектоскопа и деталей; проведение контроля (намагничивание детали, сканирование детали и обнаружение [[дефект|дефекта]], оценка и оформление результатов контроля).
 +
 +
== Подготовка намагничивающих устройств ==
 +
 +
Подготовка намагничивающих устройств к проведению контроля предусматривает внешний осмотр и проверку работоспособности. При внешнем осмотре электромагнитного НУ проверяют целостность корпуса блока питания, надежность подключения соединительных кабелей, наличие заземления и исправность всех элементов, приставного – надежность крепления гибкого [[магнитопровод|магнитопровода]] и отсутствие механических повреждений.
 +
 +
== Подготовка дефектоскопа ==
 +
 +
Подготовка дефектоскопа включает в себя внешний осмотр (проверку целостности корпуса, кабелей, защитного колпачка ФП и других составных частей), проверку работоспособности и настройку с помощью СОП (установку порога чувствительности)
 +
 +
==  Подготовка детали к контролю ==
 +
 +
1) Очищают деталь от загрязнений с помощью моечных (чистящих)
 +
устройств или вручную – металлическими (волосяными) щетками.
 +
2) Осматривают деталь с применением лупы и переносной лампы (визуальному осмотру подвергаются все поверхности контролируемой детали).
 +
Осмотр контролируемой детали осуществляют с поворотом ее относительно продольной оси на угол, достаточный для осмотра, с помощью стендовкантователей, [[манипулятор|манипуляторов]] и другого оборудования. Повреждения, обнаруженные при осмотре, отмечают по контуру мелом.
 +
3) Выявленные при визуальном осмотре дефекты устраняют зачисткой или другими методами в соответствии с требованиями нормативных и технологических документов (детали с обнаруженными недопустимыми дефектами феррозондовому контролю не подлежат).
 +
4) Деталь перемещают на позицию контроля и закрепляют. Транспортировку детали осуществляют действующими на участке контроля подъемнотранспортными механизмами.
 +
 +
== Намагничивание детали ==
 +
 +
1) Намагничивание детали производят специальными намагничивающими устройствами, предназначенными для конкретного типа детали. В некоторых случаях допускается производить намагничивание детали в
 +
составе изделия.
 +
2) Подготовку намагничивающего устройства осуществляют в соответствии с руководством по эксплуатации.
 +
Детали после контроля размагничиванию не подлежат.
 +
 +
== Сканирование детали и обнаружение дефекта ==
 +
 +
1) Подготовку дефектоскопа к работе производят в соответствии с руководством по эксплуатации.
 +
2) Устанавливают феррозондовый преобразователь на контролируемую поверхность детали.
 +
3) Плавно перемещают феррозондовый преобразователь по контролируемой поверхности вдоль магнитных силовых линий. При перемещении преобразователь прижимают к поверхности детали с небольшим усилием.
 +
4) [[Феррозондовый преобразователь|Феррозондовый преобразователь]] перемещают так, чтобы его нормальная ось была перпендикулярна контролируемой поверхности, а продольная – параллельна поверхности и направлена вдоль силовых линий магнитного поля.
 +
 +
Сканирование осуществляют без перекосов, наклонов и отрывов преобразователя от поверхности детали. Шаг сканирования должен составлять 5 – 15 мм.
 +
Скорость сканирования не должна превышать 8 см/с.
 +
 +
5) Участки объектов контроля, имеющие загрязнения толщиной более 2 мм, контролируются с повышенной (в сравнении с установленной на стандартном образце) чувствительностью. При контроле загрязненных участков объектов контроля чувствительность дефектоскопа увеличивается следующим образом:
 +
 +
ДФ-103А – поворачивают регулятор «Точно» на одно деление вправо;
 +
ДФ-105А – перемещают световое табло индикатора чувствительности на
 +
два сегмента в сторону увеличения;
 +
ДФ-201.1 – уменьшают значение фиксированного порога на 25 – 30 %;
 +
ДФ-205.03, ДФ-205.30А – нажимают 10 раз кнопку «>» в рамках операции «Ручная настройка порога».
 +
 +
6) При срабатывании индикаторов дефекта дефектоскопов над какойлибо точкой контролируемой поверхности выполняют следующие операции:
 +
а) проводят феррозондовым преобразователем по месту появления сигнала;
 +
б) определяют точку поверхности, соответствующую максимальному показанию индикатора, и отмечают ее мелом;
 +
в) выполняют преобразователем параллельные проходы с шагом 5 мм слева и справа (выше – ниже) от отметки, фиксируют мелом точки поверхности, соответствующие максимальному показанию стрелочного или цифрового индикатора дефекта. Параллельные проходы производят до прекращения срабатывания индикаторов дефекта.
 +
 +
7) Если отметки образуют линию, осматривают отмеченный участок и убеждаются в наличии трещины.
 +
8) Если трещина визуально не обнаруживается, то выполняют следующие операции: зачищают отмеченный участок металлической щеткой; осматривают очищенный участок с помощью лупы и переносной лампы.
 +
9) Если после зачистки металлической щеткой и осмотра трещина не обнаружена, то сканируют зачищенный участок феррозондовым преобразователем. Если сигнал индикатора исчезнет, то дефект исключают из рассмотрения.
 +
 +
Если индикаторы дефекта продолжают срабатывать, то требуется оценить параметры дефекта (протяженность, направление) и исключить из рассмотрения одиночные сигналы, вызванные литейными прокатами (структурными неоднородностями, порами, неметаллическими включениями и т. д.); сигналы, вызванные неоднородностью магнитного поля, обусловленной конструкцией детали; сигналы в зоне магнитного пятна (на участках размещения полюсных наконечников намагничивающих устройств); сигналы, которые повторяют границу зоны наклепа («выработки») на контролируемой поверхности.
 +
 +
== Оценка и оформление результатов контроля ==
 +
 +
Оценку результатов контроля следует проводить в соответствии с требованиями, установленными в руководящем документе. Результаты контроля следует регистрировать в журнале установленной формы (приложение). Технологическая информация и результаты контроля, полученные с помощью микропроцессорных [[Дефектоскоп|дефектоскопов]] и накопленные в памяти компьютера, должны быть распечатаны в форме протоколов (см. приложение) и подшиты в журнал.
 +
 +
== См. также ==
 +
 +
* [[Изучение феррозондовых преобразователей]]
 +
 +
* [[Феррозондовый контроль]]
 +
 +
* [[Настройка феррозондовых дефектоскоповградиентомеров]]
    
[[Категория:Феррозондовый контроль]]
 
[[Категория:Феррозондовый контроль]]
Dimon1998daf
4957

правок

Источник — https://wikirail.ru/wiki/Служебная:Сравнение_версий/8663...8748