| В вагонном хозяйстве получили наибольшее применение установки (табл. 1), включающие в себя феррозондовые [[Дефектоскоп|дефектоскопы]] ДФ-103А, ДФ-105А(И), ДФ-201.1, Ф-205.03, Ф-205.30А и [[Намагничивающее устройство|намагничивающие устройства]] (НУ) МСН 10, МСН 11 (МСН 11, МСН 11-01, МСН 11-02, МСН 11-03), МСН 12, МСН 14, МСН 22, МСН 31, МСН 32, МСН 33, МСН 34 в комбинации со стандартными образцами предприятия, определенной в руководящих документах. В состав каждой феррозондовой установки входят НУ, СОП и дефектоскоп. Для контроля [[Боковая рама|боковой рамы]] и [[Надрессорная балка|надрессорной балки]] в составе [[Тележка вагона|тележки]] модели [[Тележка 18-100|18-100]] в депо и лаборатории неразрушающего контроля используются феррозондовые установки 8-ДФ-103, 8-ДФ-105, 8-ДФ-201 или 8-ДФ-205. | | В вагонном хозяйстве получили наибольшее применение установки (табл. 1), включающие в себя феррозондовые [[Дефектоскоп|дефектоскопы]] ДФ-103А, ДФ-105А(И), ДФ-201.1, Ф-205.03, Ф-205.30А и [[Намагничивающее устройство|намагничивающие устройства]] (НУ) МСН 10, МСН 11 (МСН 11, МСН 11-01, МСН 11-02, МСН 11-03), МСН 12, МСН 14, МСН 22, МСН 31, МСН 32, МСН 33, МСН 34 в комбинации со стандартными образцами предприятия, определенной в руководящих документах. В состав каждой феррозондовой установки входят НУ, СОП и дефектоскоп. Для контроля [[Боковая рама|боковой рамы]] и [[Надрессорная балка|надрессорной балки]] в составе [[Тележка вагона|тележки]] модели [[Тележка 18-100|18-100]] в депо и лаборатории неразрушающего контроля используются феррозондовые установки 8-ДФ-103, 8-ДФ-105, 8-ДФ-201 или 8-ДФ-205. |
| П р и м е ч а н и е. Первая цифра в обозначении установки – модификация феррозондовой установки, определяемая объектом контроля; буквы ДФ –дефектоскопная феррозондовая; последние три цифры – модификация применяемого дефектоскопа. | | П р и м е ч а н и е. Первая цифра в обозначении установки – модификация феррозондовой установки, определяемая объектом контроля; буквы ДФ –дефектоскопная феррозондовая; последние три цифры – модификация применяемого дефектоскопа. |